IV自动曲线追踪仪测试

测IV(IV Curve Tracer)

自动曲线追踪仪(Auto Curve Tracer)提供DC组件及导体组件特性量测、电性故障分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)及曲线绘图(IV-CURVE)，其特点是可一次量测样品各脚位的阻値差异，脚数相当多达相当多1024 pins 。

提供迅速简便的I/V Measure 和O/S 测试功能,为FA 电性测试分析的第一步骤。 

• Pin Assignment File 设计,内含Pin Index/Tester Channel No./Ball No/Finger No/Pin Function/Pin Attribution对应表，便利共享测试治具的使用，O/S步骤验证,Leakage等测试群组的设定,符合各单位的需求。

• 完整的O/S测试方法,提供AutoSet与UserDefine两种建立测试步骤的方法：

• 提供Force I/Measure V 与Force V/Measure I两种量测的方法。

• 提供All-to-Pin, Pin-to-All, Pin-to-Pin, All-to-Pins, Pins-to-All, Pins-to-Pins六种开关设定。

• 弹性的Powered Leakage测试条件设定,内含Power/Precondition/Pins Groups三组表格,让全部的Leakage待测Pins可自动进行量测。

• 每个Test Project可整合O/S, Power Leakage, Curve Tracer三项参数,在量产测试的模式可配合Handler接口自动进行测试,可外接Keithley 2400 SourceMeter (0.012%basic accuracy with 5-1/2 digital resolution)以应付高精细的需求。

  
  

机台能力：

相当多1024 Channels、相当高电压7 V、电流限制2.5 μA~ 500 mA。

关于宜特：

iST始创于1994年的中国台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。

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